内容简介:
本书涉及模拟集成电路和系统关键方面的系统级静电放电(ESD)保护设计。
本书重点介绍嵌入式半导体集成电路(IC)、片上系统组件和集成电路系统级保护设计。
本书基于IC系统的ESD保护的循序渐进的过程,结合集成电路级和系统级ESD测试方法的相关性探讨,提供一个详细可用的芯片级ESD测试方法。
本书涉及模拟集成电路和系统关键方面的系统级静电放电(ESD)保护设计。
本书重点介绍嵌入式半导体集成电路(IC)、片上系统组件和集成电路系统级保护设计。
本书基于IC系统的ESD保护的循序渐进的过程,结合集成电路级和系统级ESD测试方法的相关性探讨,提供一个详细可用的芯片级ESD测试方法。
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